Сканирующий электронный микроскоп
В сканирующем (растровом) электронном микроскопе электроны, которые регистрируются и преобразуются в изображение, идут от поверхности образца. Электронный пучок фокусируется в тонком зонде и им сканируют образец. В результате этого образец испускает вторичные электроны слабой энергии. Различные участки поверхности испускают неодинаковое количество вторичных электронов. Меньшее количество испускают углубления и борозды и поэтому кажутся темными, большее — пики и выступы, которые выглядят светлыми. В результате получают трехмерное изображение. Электроны, отраженные поверхностью, и вторичные электроны собираются, усиливаются и передаются на экран.
Статья добавлена 10:41 в рубрику Растительная клетка. Вы можете посмотреть все комментарии используя RSS 2.0 фид. Комментарии и пинги закрыты.